phoenix x|aminer
——— 一款操作简便的入门级x射线检测系统, 具有高性能的微焦点无损检测设备,
专为半导体封装, 电子元器件和电子组装等领域高分辨率检测要求而设计. 现配备了新型cmos平板探测器, 比图像增强器具有更好的信噪比, 清晰度和实时成像能力, 并可选ct功能. 系统提供了功能强大和易用性好的phoenix x|act base二维软件和 datos|x base ct软件, 并允许手动检测和编程自动检测
特点与益处
主要特点和益处
|
安装好的印刷电路板
µbga的二维x射线图像
电力电子器件
将功率半导体元器件的表面焊接到陶瓷基板上。在穿过3毫米厚的铜制散热器后，基板上可见空洞，半导体的焊点无空洞。甚至连细铝焊线也可看见。
在任何时间通过任何检测角度通过实时cad数据匹配得到实时影像
|
|
|
phoenix microme|x —— 高分辨率的微焦点x射线检测系统，主要设计用于焊点和电子元件的实时x射线检测 它将高分辨率的二维x射线技术和计算机断层扫描结合在一个系统中，同时具有创新的功能。多功能、易于使用的phoenix microme|x 提供了出色的图像质量，可以用于故障分析实验室以及生产车间。它配备了phoenix|x射线专有的图像处理软件，用于pcb装配的自动检测，提供更高的缺陷覆盖率，同时提高了生产效率。
seifert x-cube 高度多功能的160kv放射镜检测系统，用于现场测试和各种小试样的小系列检测，包括轻金属铸件、钢构件、塑料、陶瓷和特种合金。 该系统的设计在应用中具有很大的灵活性，如生产、进货检测、故障分析或研究和开发 。 凭借其集成的图像增强系统-seifert vistaplus-， 标准版的可编程系统可提供快速和好品质的检测。 它可以处理重型及大型的测试样品，且可以快速对其进行装卸。 易于对经验证的图像增强系统进行操作与编程，有助于用户准确保存并做出正确的检测决定。
phoenix nanome|x —— 超高分辨率的纳米焦点x射线检测系统，设计用于检测半导体及smt行业的高品质的组件和互连 该系统具有良好的性能和多功能性，可用于二维x射线检测，以及全三维计算机断层扫描(nano ct)。有了新的 x|act 软件包， phoenix nanome|x是可选的系统，用以确保满足目前和未来的零缺陷要求。
扫码添加微信号
