nanome|x 工业ct-凯发app

来源:英华检测发布时间：2016-12-20 浏览次数：4620

phoenix nanome|x

—— 超高分辨率的纳米焦点x射线检测系统，设计用于检测半导体及smt行业的高品质的组件和互连

该系统具有良好的性能和多功能性，可用于二维x射线检测，以及全三维计算机断层扫描(nano ct)。有了新的 x|act 软件包， phoenix nanome|x是可选的系统，用以确保满足目前和未来的零缺陷要求。

特色

主要功能

通过双向检波器技术（数字图像链与有效的温度稳定的30帧每秒的数字探测器）获取的清晰的活动影像
高放大倍率
熟练的操作
高度的可再现性
180千伏/ 15 w高功率开放纳米焦点管具有高达200纳米的细节探测能力
可升级到 nanoctò
可选：
- x|act 软件包用于方便快捷的基于cad的高分辨率自动x射线检测(?axi），以达到极高的缺陷覆盖率，具有高放大倍率和可再现性
- 通过高动态温度稳定的dxr数字探测器与主动冷却获取的30 fps（帧每秒）的清晰的活动检测影像
- 10秒内的三维计算机断层扫描
- 通过菱形|窗口以同样的高图像质量水平进行快达2倍的数据采集

顾客利益：

组合的二维 /三维ct操作
通过双向检波器技术（数字图像链与有效的温度稳定的30帧每秒的数字探测器）获取的清晰的活动影像
检测步骤的自动化是可能的
明显的易用性

应用

安装好的印刷电路板

处理器箱内倒装芯片焊点的纳米焦点x射线图像。图像显示一个焊桥和几个开放的焊点。焊点直径大约为 150 µm

半导体与其他电子元件

4000 个温度应力周期后 µbga的nanoct® 。由于有0.5微米的体素尺寸，可以检测到8 到小于1微米的裂缝

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