v|tome|x l 240 —— 高分辨率微焦点计算机断层扫描(micro ct)系统,用于如大型铸件,焊接接缝,电子设备和更多的三维计算机断层扫描和二维无损x射线检测。
v|tome|x l 450 —— 多功能高分辨率微焦点系统,用于二维和三维计算机断层扫描(micro ct)和二维无损x射线检测 花岗岩底座,可以处理大样本,并具有极高精度。该系统是用于无效和缺陷检测和铸件的三维测量(如首件检测)...
phoenix nanome|x —— 超高分辨率的纳米焦点x射线检测系统,设计用于检测半导体及smt行业的高品质的组件和互连 该系统具有良好的性能和多功能性,可用于二维x射线检测,以及全三维计算机断层扫描(nano ct)。有了...